金屬粉末粒徑分析儀

簡要描述：

LT3600金屬粉末粒徑分析儀是真理光學技術團隊基于二十多年粒度表征和應用經(jīng)驗開發(fā)的新一代粒度分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)加持多項創(chuàng)新技術和，測量速度高達每秒20000次，而且Hydrolink分散進樣器更是采用了雙電機驅動，內(nèi)置高效率超聲，強力攪拌和離心循環(huán)泵分開獨立控制，適用于各種類型的復雜樣品，對于密度大和分布寬的金屬粉末和硬質合金等樣品，也能輕松分散和進樣并獲得可靠的高重現(xiàn)性結果。

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詳細介紹

珠海真理光學儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發(fā)和生產(chǎn)，公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經(jīng)驗和工作成就的精英人才，其涵蓋顆粒表征技術的基礎理論研究、應用技術開發(fā)、產(chǎn)品制造、和商業(yè)運營服務。真理光學秉持以科學為先導，運用的技術手段，通過精細的管理，為客戶提供的粒度表征及應用技術解決方案，其代表產(chǎn)品LT3600粒度儀適用于金屬粉末的粒度表征分析。金屬粉末是粉末冶金工業(yè)的原料，其粒度直接影響到粉末的加工成行以及產(chǎn)品的終性能。

LT3600金屬粉末粒徑分析儀加持了以下多項創(chuàng)新和技術：

1、偏振濾波技術

2、衍射愛里斑反常變化（ACAD）的補償修正技術

3、斜置梯形測量窗口

4、格柵式超大角檢測技術

5、粒度分析模式優(yōu)化及自適應技術

6、雙驅動進樣分散集成技術

金屬粉末粒徑分析儀技術指標

項目	指標
測量原理	激光衍射
光學模型	全量程米氏理論及夫朗霍夫理論可選
粒徑范圍	0.02μm -3600μm，無需更換透鏡，不依賴標樣校準
檢測系統(tǒng)	包含格柵式超大角度，非均勻交叉面積補償檢測器陣列，全測量角度范圍無盲區(qū)
光源	集成恒溫系統(tǒng)的638nm, 20mW固體激光器
空間濾波方式	偏振濾波技術
光學對中系統(tǒng)	智能全自動
測量時間	典型值小于10秒
測量速度	10000次/秒
度	Dv50優(yōu)于±0.6% （NIST可溯源乳膠標樣）
重復性	Dv50優(yōu)于±0.5% （NIST可溯源乳膠標樣）
激光安全	1類激光產(chǎn)品
計算機配置	In i5處理器，4GB內(nèi)存，250GB硬盤，鼠標，鍵盤和寬屏顯示器
計算機接口	USB2.0
軟件運行平臺	Windows 7版或以上版
操作環(huán)境溫度	5℃ - 40℃
操作環(huán)境濕度	10% - 85%相對濕度（無結凝）
電源要求	交流220V, 50Hz – 60Hz, 標準接地
光學系統(tǒng)重量	26kg
光學系統(tǒng)尺寸	636mm x275mm x320mm

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